納米粒度zeta電位儀是一種新的zeta電位儀，用于表征納米顆粒懸浮液，主要分析液體介質(zhì)中粒子或大分子的粒徑、Zeta電位和分子量三個參數(shù)。它基于重新審視的現(xiàn)代版激光多普勒電泳(LDE)技術(shù)，提供很好的測量分辨率。它是Cordouan的VASCO粒度分析儀的補充，用于研究膠體溶液的穩(wěn)定性和性質(zhì)。可以用于測量固體、液體和氣體中的顆粒大小和分布，其中固體樣品需要先進行樣品制備。通過激光散射和光學(xué)檢測技術(shù)，可以確定顆粒的平均直徑、分布范圍和聚集情況等信息。同時，還可以分析顆粒形態(tài)、比表面積、表面修飾等特性。

　　一、zeta電位測試儀工作原理

　　1、先進的測試原理：采用動態(tài)光散射原理，來測量顆粒粒徑大小的。采用動態(tài)光散射原理來研制的納米激光粒度儀，其動態(tài)光散射原理建立在分散在液體顆粒的布朗運動基礎(chǔ)之上，顆粒越小運動越快，反之，顆粒越大，運動越慢。具有不干擾，不破壞顆粒體系原有狀態(tài)的特點，從而保證了測試結(jié)果的真實性。

　　2、高分辨能力：使用PCS技術(shù)測定納米級顆粒大小，必須能夠分辨納秒級信號起伏。納米粒度zeta電位儀的核心部件采用微納公司研制的CR140數(shù)字相關(guān)器，具有識別8ns的很高分辨能力和很高的信號處理速度，因此可以得到準確的測定結(jié)果。

　　3、高靈敏度與信噪比：探測器采用專業(yè)級高性能光電倍增管(PMT)，對光子信號具有很高的靈敏度和信噪比，從而保證了測試結(jié)果的準確度。

　　4、運算功能：采用自行研制的高速數(shù)字相關(guān)器CR140進行數(shù)據(jù)采集與實時相關(guān)運算，其數(shù)據(jù)處理速度高達125M，從而實時有效地反映顆粒的動態(tài)光散射信息。

　    5、穩(wěn)定的光路系統(tǒng)：采用短波長LD泵浦激光光源和光纖技術(shù)搭建而成的光路系統(tǒng)，使光子相關(guān)譜探測系統(tǒng)不僅體積小，而且具有很強的抗干擾能力，從而保證了測試的穩(wěn)定性。

 

　　二、主要優(yōu)勢

　　1、沒有電滲效應(yīng)---消除了測量中的假峰；

　　2、改進型LDE技術(shù)(LDE)---高效，可靠和簡單；

　　3、增強的分辨率---比通常的相關(guān)器技術(shù)好10倍；

　　4、高分辨率測量---準確且可重復(fù)的zeta電位分析；

　　5、易于使用和直觀的圖形用戶界面軟件(GUI)---交鑰匙操作；

　　6、用于長壽命電極的新材料---減少維護和消耗；成本效益好；

　　7、專為標準一次性比色杯和石英比色杯設(shè)計---易于填充；

　　8、分辨率比流行的電泳光散射法提高10倍。

 

　　三、主要功能

　　納米粒度zeta電位儀也稱為穩(wěn)定性分析儀，zeta電位測試儀。通過測量顆粒在介質(zhì)中的電動勢來確定其表面電位，從而評估顆粒的穩(wěn)定性和分散性。此外，Zeta電位儀還可以用于分析納米顆粒在介質(zhì)中的運動，推導(dǎo)出其黏度、流變性質(zhì)等信息。

 

　　四、應(yīng)用領(lǐng)域

　　1、在食品行業(yè)中：

　　2、醫(yī)學(xué)領(lǐng)域中：

　　3、在環(huán)境監(jiān)測領(lǐng)域：

　　4、在材料科學(xué)領(lǐng)域中：